關鍵詞 |
花火直讀光譜儀,貝直讀光譜儀,光電直讀光譜儀使用,直讀光譜儀全譜 |
面向地區 |
全國 |
測量對象 |
硅含量 |
電源電壓 |
220v |
類型 |
金屬元素分析儀器 |
管他叫直讀的原因是相對于攝譜儀和早期的發射光譜儀而言,由于在70年代以前還沒有計算機采用,所有的光電轉換出來的電流信號都用數碼管讀數,然后在對數轉換紙上繪出曲線并求出含量值,計算機技術在光譜儀應用后,所有的數據處理全部由計算機完成,可以直接換算出含量,所以比較形象的管它叫直接可以讀出結果,簡稱就叫直讀了,在國外沒有這個概念。
直讀光譜儀和ICP都屬于發射光譜分析儀器,區別在于他們的激發方式不同,ICP中文名字是電感耦合等離子體,是通過線圈磁場達到高溫使樣品的狀態呈等離子態然后進行測量的,而直讀光譜儀一般采用電火花,電弧或者輝光放電的方式把樣品打成蒸氣進行激發的,在效果上ICP要比直讀光譜儀器的檢出限小,精度高,但是在進樣系統上要求非常嚴格,沒有好的進樣系統就只能做溶液樣品。
直讀光譜儀采用的是原子發射光譜方法,工作原理是利用光源發生器使樣品與電極之間激發發光,電火花的高溫在氬氣保護氣氛中使樣品中各元素直接氣化并被激發而發射出各元素的特征譜線,光譜線的強度與所屬元素的含量成正比關系,用光柵分光后,經出射狹縫照在其對應光電倍增管電陰極上,在高壓電源作用下,將光信號轉換成電信號,經儀器的控制測量系統將電信號積分進行模數轉化,然后由計算機處理,測量出各個元素的百分含量。
對樣品制樣的要求
1、分析樣品成致密的塊狀或較厚片狀固體,相對均勻,有代表性,不能有裂紋、夾雜、縮孔等物理缺陷。
2、每次檢測前都要重新制樣,試樣表面平整。當試樣放在電極激發臺上時, 不能有漏氣現象。
3、待測樣品表面不能沾污。
4、分析樣品與控制標樣操作一致。磨樣紋路粗細應該保持一致,不能有交又紋出現,磨樣時用力應該均勻,用力不要過大,用力太大會導致試樣磨樣過熱,直接導致試樣表面出現氧化的現象。
5、試樣厚度不能太薄。如果試樣的厚度比較薄, 其表面不平整, 也很很容易被燒, 并且激發時容易被擊穿, 這樣也會在一定程度上影響薄樣測量結果。
氬氣流量和壓力大小決定了氬氣對放電表面的沖擊能力,若沖擊能力過低,不足以將試樣激發過程中產生的氣體和形成的化合物沖掉,會導致污物在電極周圍聚集,抑制試樣的繼續激發,使放電不穩定,造成擴散放電,分析重復性差;若沖擊能力過大,易使火花產生跳動,同樣造成放電不穩定,影響檢測結果同時造成氬氣的浪費。
由于光電直讀光譜分析是用比較方法測定試樣中元素含量的,所以分析結果準確度在很大程度上取決于標準樣品的類型和質量的優劣,例如在分析20#鋼工件時,采用了16Mn標樣,勢必造成分析結果的錯誤。得出在直讀光譜儀的定性和定量分析中,只要按照操作規范,全部標準化1~2周做一次,類型標準化8h做一次等,操作正確,就可以做出與真實相近的結果。
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