內(nèi)箱才質(zhì)304不銹鋼外箱材質(zhì)烤漆溫度范圍-70~150度型號(hào)TS-49電源380V重量800kg均勻度1
冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):
采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面,操作簡(jiǎn)易.
設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,各區(qū)之箱體釆特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。
沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū),做冷熱沖擊測(cè)試。
高溫沖擊或低溫沖擊時(shí),*大時(shí)間可達(dá)9999分鐘,*大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
冷卻采二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速,冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種。
可連接電腦,記錄儀僅為選購(gòu)件。
彩色LCD液晶觸控式控制器的特點(diǎn):
控制器的各項(xiàng)操作皆以人機(jī)觸控方式進(jìn)行。
人性化的圖控介面讓使用者更容易使用及了解機(jī)械狀態(tài)。
提供及時(shí)線(xiàn)上說(shuō)明,免除閱讀說(shuō)明書(shū)的困擾。
超大溫度值顯示,提供*佳的顯示效果.

冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;
2.GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;
3.GB/T2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)Ca:恒定交變濕熱試驗(yàn)方法。
4.GB2423.2-2006(IEC68-2-2)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
5.GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
6.GB/T2423.4-93(IEC68-2-30)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法
7.GJB150.3(ML-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法
8.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
9.GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:濕熱試驗(yàn)》
10.GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn):恒定濕熱試驗(yàn)》
11.GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn):交變濕熱試驗(yàn)》
12.GJB367.2-1987《通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》濕熱試驗(yàn)
13.GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
14.GB/T5170.5-96《濕度試驗(yàn)設(shè)備》
15.GB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
16.GB/T10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
17.GB/T10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
18.GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

冷熱沖擊測(cè)試箱規(guī)格與技術(shù)參數(shù):
型號(hào):TS-100A工作室尺寸:450×450×500外型尺寸:1560×870×1545
型號(hào):TS-225A工作室尺寸:600×600×600外型尺寸:1710×1020×1845
型號(hào):TS-500A工作室尺寸:800×800×800外型尺寸:1910×1220×2265
型號(hào):TS-010A工作室尺寸:1000×1000×1000外型尺寸:2110×1420×2665

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)備的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗(yàn)室,產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過(guò)電機(jī)帶動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動(dòng)的

熱沖擊試驗(yàn)箱制冷機(jī)控制方式:
??1.控制系統(tǒng)根據(jù)試驗(yàn)條件自動(dòng)調(diào)節(jié)制冷機(jī)運(yùn)行*佳節(jié)能工況
??2.蒸發(fā)器制冷量由控制系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)電磁閥切換
??3.壓縮機(jī)回氣冷卻回路
??制冷劑:R404a/R23(臭氧耗損指數(shù)均為0,R23為復(fù)疊式制冷系統(tǒng)采用)

口冷熱沖擊試驗(yàn)箱性能參數(shù):
??進(jìn)口冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用原裝日制微電腦大型液晶LCD(320x240Dots)中英文顯示控制系統(tǒng)。
??高程序記憶容量,可設(shè)定儲(chǔ)存100組程序,*大循環(huán)設(shè)定9999Cycles,每段時(shí)間*大設(shè)定999Hrs59Mins。
??具有RS-232C通信接口裝置,可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控/編輯/記錄及二組動(dòng)態(tài)接點(diǎn)(TimeSignalRelay),使用便捷。
??執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇2Zone或3Zone之功能。
??具備全自動(dòng),系統(tǒng)回路,任一機(jī)件動(dòng)作,完全由P.L.C.鎖定處理。
??機(jī)件固障時(shí),配有自動(dòng)機(jī)回路及警示訊號(hào)。發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置。
??溫濕度控制儀表:可編程日本OYO9226S觸摸屏輸入,根據(jù)客戶(hù)要求可任意設(shè)定不同高低溫沖擊溫度點(diǎn),滿(mǎn)足做測(cè)試的不同需求.
??此設(shè)備分為:高溫蓄熱區(qū),低溫蓄冷區(qū),產(chǎn)品測(cè)試區(qū)(三區(qū)完全立)
??設(shè)備測(cè)試區(qū)尺寸:36cm*35cm*40cm(寬*高*深)
??高溫槽溫度范圍:+60~200℃.
??低溫槽溫度范圍:-10℃~-70℃
??實(shí)驗(yàn)箱沖擊溫度:高溫+60~150℃.低溫A:(-10~-40℃)B:(-10~-55℃)C:(-10~-65℃)
??高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10S
??高低溫恢復(fù)時(shí)間:3~5min(非線(xiàn)性空載下)
??控制精度:溫度±0.2℃(指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差)
??溫度波動(dòng)度:≤0.5℃(溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測(cè)*高溫度和*低溫度之差的一半)
??溫度誤差:≤±1℃(工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點(diǎn)實(shí)測(cè)的平均溫度)
??溫度均勻度:≤2.0℃(溫度均勻度為每次測(cè)試中實(shí)測(cè)*高溫度和*低溫度之差的算術(shù)平均值)
??預(yù)熱區(qū)升溫速度:≥3℃/min(非線(xiàn)性)
??預(yù)冷區(qū)降溫速度:≥2℃/min(非線(xiàn)性)