產(chǎn)品功能：
1.具有遠(yuǎn)程診斷功能說(shuō)明:我們軟件集成了常用的DCS系統(tǒng)的通訊協(xié)議，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可與工廠的配料系統(tǒng)的控制中心或PLC進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，即可向配料系統(tǒng)傳送分析數(shù)據(jù)，也可傳送配比數(shù)據(jù)。實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)數(shù)據(jù)分析、在線(xiàn)質(zhì)量。
2.具有技術(shù)的，快速，安全，性能可靠而實(shí)用的樣品裝卸系統(tǒng)
3.搖臂式設(shè)計(jì)的樣品裝卸系統(tǒng)，完善的粉末保護(hù)方式，預(yù)真空室和限定位置機(jī)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)高度重現(xiàn)性，無(wú)故障，快速穩(wěn)定。1000W光路設(shè)計(jì)示意圖，

X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國(guó)內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、多類(lèi)型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線(xiàn)性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，了儀器工作的一致性； 利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類(lèi)技術(shù)使分類(lèi)更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的影響；采用多參數(shù)的線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。

x熒光光譜儀樣品種類(lèi)樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類(lèi)產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過(guò)化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等

技術(shù)指標(biāo)高靈敏度探測(cè)器（分辨率達(dá)149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
樣品類(lèi)型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線(xiàn)管：靶材/Mo管電壓/5～50kV管電流/1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測(cè)器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測(cè)器
濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇
樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配）
樣品觀察：130萬(wàn)分辨率彩色CCD攝像機(jī)
微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

將Ｘ射線(xiàn)熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的到之處在于：通過(guò)巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來(lái)識(shí)別巖性，再通過(guò)巖性的組合特征分析來(lái)判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有的檢出限，為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿(mǎn)足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求；同時(shí)引入了目前的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線(xiàn)管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；
優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
特的抗震性設(shè)計(jì)，高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過(guò)了第三方機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認(rèn)證；
在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、在線(xiàn)檢測(cè)以及各類(lèi)地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)中充分發(fā)揮作用。

X熒光光譜儀分析法中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適，或者經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的切割達(dá)到X 熒光光譜儀分析的要求，只需表面拋光，液體樣品可以直接分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上直接進(jìn)行分析。而粉末樣品的制樣方法就比較復(fù)雜。這里只對(duì)常見(jiàn)的固體和粉末樣品的制樣方法進(jìn)行討論，液體樣品就不再討論。
1、固體樣品的主要缺點(diǎn)是，一般情況下不能采用各種添加法：如標(biāo)準(zhǔn)添加（或稀釋?zhuān)┓ā⒌停ɑ蚋撸┪障♂尫ā?nèi)標(biāo)法等。若所有樣品中已經(jīng)含有適當(dāng)?shù)摹⒁欢舛鹊膬?nèi)標(biāo)元素，則上述的后兩種方法還是可用的。另外，也不能進(jìn)行化學(xué)濃縮和分離。表面結(jié)構(gòu)和成分有時(shí)也難取得一致。可能弄不到現(xiàn)成的標(biāo)樣，而人工合成又很困難。
2、制樣方法，固體樣品可用未加工的或經(jīng)加工的大塊材料或原材料（如生鐵，鋼錠等）制取。另外，也可把熔爐的熔融物直接澆鑄到小模子里。為防止緩慢冷卻時(shí)發(fā)生的成分偏析，好用激冷。經(jīng)拋光的原材料，或經(jīng)砂輪磨打的表面，一般是令人滿(mǎn)意的，但對(duì)后者仍需進(jìn)一步拋光，以減少表面粗糙度，并除去加工損傷的和沒(méi)有代表性的表面層。拋光的方法有許多種，包括：
（1）行帶式磨削，然后用拋光器拋光，其砂紙粒度依次由粗變細(xì)
（2）用車(chē)床、銑床或刨床進(jìn)行加工。對(duì)于薄板和箔，仔細(xì)操作，以表面不出現(xiàn)翹曲、和折痕。特別要注意不能照射時(shí)間太長(zhǎng)，以免受熱變形。薄板和箔襯上一塊剛性支撐物，或把它們粘在一起。
制備固體樣品時(shí)要注意：
（1） 樣品的分析面不能有氣孔，析出物和多孔質(zhì)現(xiàn)象。
（2） 防止偏析。造成偏析的因素：合金的組成和密度；鑄模的材料、形狀和厚度；合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。