PCT試驗箱使用說明
1.使用PCT老化試驗箱前請詳讀操作保養手冊。
2.建議使用蒸餾水或R.O.水以保護鍋體使用安全。
3.使用PCT前請確認關閉手動排氣閥門。
4.工作完成后如壓力指示器未回到0kg/cm2。開門前請打開手動排氣閥排除內鍋剩余壓力，直到內鍋壓力回到0kg/cm2。
5.工作完成后將測試物品留置在鍋內時間過長，將可能發生鍋門無法開啟的現象，那是因為冷熱空氣收縮造成的壓差所導致，處理方式很簡單，只要打開手動排氣閥排除內鍋氣體，鍋門就可打開。

PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

安全保護裝置
A、誤操作安全裝置：高壓加速老化試驗箱鍋門若未關緊則機器無法啟動.
B、超壓安全保護：當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓.
C、超溫保護：當鍋內溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源.
D、防燙傷保護：特制材質制成可防止操作人員接觸燙傷.
E、手動安全保護排壓伐.

PCT試驗箱對半導體的PCT測試：PCT主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
產品特點
1. 采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度。
2. 采用指針顯示正負壓表；時間控制器采 LED 顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。
3. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準, 可防止試驗中結露滴水設計.。
4. 圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.。
5. 精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 200h。
6. 自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,專利安全門把設計,箱內有大于常壓時測試門會被反壓保護。
7. 內壓力愈大時,專利packing,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命。
8. 臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。
9. 安全閥，當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。
10. 一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

是航空、汽車、家電、科研等領域的測試設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫或恒定試驗的溫度環境變化后的參數及性能。

通過考核對材料及其防護層的鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護層的工藝質量比較，同時可考核某些產品抗鹽霧腐蝕的能力；該產品造用于零部件、電子元件、金屬材料的防護層以及工業產品的鹽霧腐蝕試驗,根據試驗需求可以分為：中性鹽霧試驗、酸性鹽霧試驗、銅加速醋酸鹽霧試驗。

佳放置條件
一、溫度：5～40℃；
二、相對濕度：不大于85%；
三、氣壓：86～106kPa；
四、電源：交流電壓220±22V或380±38V 頻率50±0.5Hz；
五、周圍無強烈振動，無強磁場影響，無腐蝕性氣體；
六、無陽光直接照射或其他冷、熱源直接輻射；
八、周圍無強烈氣流，當周圍空氣需要強制對流時，氣流不應直接吹到箱體上。

老化試驗箱采用國外的加熱氣流方法，解決了原轉盤式的溫度不均勻先天缺陷，同時大大提高了試樣放置的安全性，有效空間利用率是原轉盤式的200%以上，適用于電子元件，橡膠零部件等材料在高溫下的老化適應性試驗。新型老化試驗箱采用LTDE可編程控制系統，在額定溫度范圍內可按工作需要進行程序升溫-恒溫-待機，操作人員設置好程序后，儀器即按程序工作，完畢后自動關機（待機）。

自我診斷功能，便于維護
內置自診斷裝置可提示操作人員何時應進行例行維護，或對故障進行檢查。帶有一個個性化的面板控制器，它可使操作人員簡單地對復雜的測試程序進行編程。
易于編制循環程序或直接運行Q-FOG自帶的測試程序。可以完成許多循環腐蝕試驗，如Prohesion試驗、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等試驗。內置以下全部或部分循環程序：
1、 循環A， ASTM B117（NSS）
2、 循環B， Prohesion
3、 循環C，CCT-1
4、 循環D，CCT-IV
5、 循環E，GM9540P/B
6、 循環F，ASTM B368（CASS）