PCT老化箱采用新優化設計,美觀大方，做工精細。
采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。
采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩定特點（依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數據下載功能，和通訊功能）。

PCT試驗箱對半導體的PCT測試：PCT主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
產品特點
1. 采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度。
2. 采用指針顯示正負壓表；時間控制器采 LED 顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。
3. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準, 可防止試驗中結露滴水設計.。
4. 圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.。
5. 精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 200h。
6. 自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,專利安全門把設計,箱內有大于常壓時測試門會被反壓保護。
7. 內壓力愈大時,專利packing,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命。
8. 臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。
9. 安全閥，當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。
10. 一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現不同環境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發和質量控制提供相應的環境模擬和加速試驗。

老化試驗箱有大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。
箱體保溫采用超細玻璃纖維保溫棉，可避免不必要的能量損失。箱體左側配一直50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。換氣的時間和次數可任意設置。
試驗架二層，可以自由調節高度

循環腐蝕試驗以一種重復的循環周期將樣板暴露在一系列不同的環境條件之中，Q-FOG腐蝕試驗箱循環式腐蝕試驗比傳統的鹽霧試驗對材料的侵蝕作用更為接近自然

自我診斷功能，便于維護
內置自診斷裝置可提示操作人員何時應進行例行維護，或對故障進行檢查。帶有一個個性化的面板控制器，它可使操作人員簡單地對復雜的測試程序進行編程。
易于編制循環程序或直接運行Q-FOG自帶的測試程序。可以完成許多循環腐蝕試驗，如Prohesion試驗、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等試驗。內置以下全部或部分循環程序：
1、 循環A， ASTM B117（NSS）
2、 循環B， Prohesion
3、 循環C，CCT-1
4、 循環D，CCT-IV
5、 循環E，GM9540P/B
6、 循環F，ASTM B368（CASS）