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FCC大電流注入探頭 |
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FCC大電流注入探頭使用：BCI通過電流注入探頭將RF射頻干擾耦合到被測試設(shè)備的線束上，模擬實際使用環(huán)境中可能遇到的電磁干擾情況。
FCC大電流注入探頭（BCI測試）在評估電子設(shè)備的抗干擾能力方面具有重要作用，特別是在汽車電子零部件的EMC測試中。
使用FCC大電流注入探頭采用大電流注入法與傳統(tǒng)的輻射敏感度測試相比，BCI法具有良好的重復(fù)性，且操作簡單實用，因此在商業(yè)、航空與軍事領(lǐng)域的EMC測試中得到了廣泛應(yīng)用。
使用FCC大電流注入探頭通過BCI測試，可以有效地評估電子設(shè)備在電磁環(huán)境中的表現(xiàn)，確保其符合電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和安全性。
?FCC大電流注入探頭及其校準(zhǔn)夾具廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備的電磁兼容性（?EMC）?測試中，?特別是在需要評估設(shè)備對電磁干擾（?EMI）?的耐受性時。?這些測試有助于確保電子設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境中能夠正常工作，?不會因電磁干擾而失效。
FCC大電流注入探頭是由美國FCC公司開發(fā)和制造的，其型號和規(guī)格多樣，?以適應(yīng)不同行業(yè)，不同測試條件和頻率范圍，以滿足不同的測試要求。
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