控制器說明
操作介面：觸控螢?zāi)恢形慕槊妫袛?shù)位顯示，即時曲線，操作選擇，定時設(shè)定，程式設(shè)定，報警，參數(shù)設(shè)定等介面
曲線記錄功能：可保存設(shè)備的設(shè)定值、採樣值及採樣時刻的時間；大存儲時間為30天。同時存儲有30天，7天，24小時，8小時，1小時不同容量和分辨度的共5條即時曲線，并可顯示即時資料，滿足用戶不同需求。

列印功能
程式：多30條曲線。
程式段：每個程式多50段（總程式段1200段）。
程式段分組：每條曲線可再按任意連續(xù)段分組成節(jié)，多可組合10節(jié)，節(jié)允許重疊。
內(nèi)部迴圈：程式內(nèi)的程式段以節(jié)為小迴圈單位，每節(jié)多可迴圈99次 。
程式迴圈：多可迴圈99次。
程式連線：程式運行結(jié)束可連線到選定的下條程式 。

實際使用過程中，高低溫低氣壓試驗箱可以進行不同行業(yè)領(lǐng)域的實驗，應(yīng)用于電子、電器、汽車、航空航天等領(lǐng)域，可以評估產(chǎn)品在不同環(huán)境下的性能、可靠性、耐久性等指標。一般高低溫低氣壓試驗箱可以做到-70℃~150℃，不同型號和規(guī)格的試驗箱溫度需求有所不同。

低氣壓試驗箱高壓加速老化試驗機試驗?zāi)康氖翘岣攮h(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。

低氣壓試驗箱具有模擬溫度，濕度，高度（低氣壓）環(huán)境氣候的試驗設(shè)備，主要用于航空，航天，電子，，科研等領(lǐng)域的耐氣候試驗。通過高溫，低溫，濕熱，低氣壓單項氣候因素或多項氣候因素的作用下，用于評估產(chǎn)品或材料部件在相應(yīng)的溫度，濕熱，低氣壓環(huán)境下進行使用，貯存，運輸?shù)目煽啃裕瑫r對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測量。

試驗箱體，即我們樣品需要放置的區(qū)域，試驗箱體里承載我們的樣品，關(guān)上門后在我們的內(nèi)箱里提供溫度氣壓條件，來對樣品進行一個環(huán)境考驗。內(nèi)部包含了樣品的隔層架、溫度傳感器（測量與控制內(nèi)箱溫度的元件，一般在內(nèi)箱右上角位置）、循環(huán)風輪（用于循環(huán)內(nèi)箱的空氣，使內(nèi)箱各個空間溫度均衡下來，作為傳輸熱量和冷氣的載體工具）以及蒸發(fā)器（冷氣的產(chǎn)生場所）、加熱管（熱量的產(chǎn)生場所，與蒸發(fā)器因在擋板后不可見）。