回收安捷倫N4373C光波元器件分析儀
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不期待突如其來的好運，只希望所有的努力終有回報。
多數(shù)的錯失，是因為不堅持，不努力，不挽留，然后催眠自己說一切都是命運。
東莞市諾展電子儀器有限公司

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回收安捷倫N4373C光波元器件分析儀
N4373C 40/50/67 GHz 光波元器件分析儀
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
頻率響應(yīng)精度
50 GHz 時，± 1.2 dB（典型值）
65 GHz 時，± 1.8 dB（典型值）
相對頻率響應(yīng)精度
50 GHz 時，± 0.8 dB（典型值）
65 GHz 時，± 1.3 dB（典型值）
本底噪聲
50（65）GHz 時，O/E 測量的本底噪聲為 -60（55）dB（A/W）
50（65）GHz 時，E/O 測量的本底噪聲為 -64（59）dB（W/A）

描述
光波元器件分析儀軟件版本 2.3
憑借高達 67 GHz 的調(diào)制頻率范圍和出色的精度，N4373C 可根據(jù) IEEE 802.3ba 標(biāo)準(zhǔn)對傳輸系統(tǒng)的電光器件執(zhí)行 S 參數(shù)測試，并且支持光載無線通信（RoF）以及在 60 GHz 頻率范圍內(nèi)的航空航天與（A&D）應(yīng)用。
通過使用 N4373C 測試電光器件的 S 參數(shù)，可實現(xiàn)快的上市速度，并使您集中精力開發(fā)元器件。
通過使用快速、簡單的測量設(shè)置，可自動執(zhí)行耗時的電子校準(zhǔn)步驟，并且使操作人員無需進行光校準(zhǔn)，從而顯著提率。

額外優(yōu)勢：
高達 67 GHz 的平衡測量能力（薪）
利用外部光源輸入在 1300 ～ 1600 nm 的全部波長范圍內(nèi)進行測試
1310 和 1550 nm 可選擇的內(nèi)部發(fā)射機，支持 IEEE 802.3ba 元器件測試
內(nèi)置平均功率計可快速進行發(fā)射機功率測試
用戶可選擇的光發(fā)射機輸出功率幫助您適應(yīng)目標(biāo)測試條件
測試速度比 86030A 快 10 倍以上，可提高生產(chǎn)率

關(guān)鍵特性
和相對精度測量提高了開發(fā)和生產(chǎn)過程的產(chǎn)量。以
精度和可重復(fù)性，測量結(jié)果可以在世界各地的測試位置進行比較。
可追蹤的平衡測量高達50 GHz
高可靠性和快速上市的NIST可追溯的交鑰匙解決方案
使用具有特新校準(zhǔn)過程的快速和容易的測量裝置顯著提高生產(chǎn)率導(dǎo)致更低
測試成本
用戶選擇波長測試的外部光源輸入選項
跨N437 XB/C LCA系列的通用PNA和LCA用戶接口
相同的LCA軟件和跨N437 XB/C家族的遠(yuǎn)程控制簡化了集成

相對頻率響應(yīng)不確定度
±0.8 dB @ 50 GHz（典型）
±1.3 dB @ 65 GHz（典型）
頻率響應(yīng)不確定度
±1.2 dB @ 50 GHz（典型）
±1.8 dB @ 65 GHz（典型）
噪聲地板
- 60（55）dB（A/W）用于O/E測量@ 50（65）GHz
- 64（59）dB（W/A）用于E/O測量@ 50（65）GHz
典型相位不確定度±2.3°
發(fā)射機波長
1550 nm±20 nm
1310 nm±20 nm
1290至1610納米的外部源輸入
內(nèi)置光功率計
用于快速功率驗證
回收安捷倫N4373C光波元器件分析儀
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