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礦石光譜儀通常由光源、光柵、檢測器和數據處理系統組成。光源發出特定波長的光束，經過光柵的分光作用，將光束分成不同波長的光線。這些光線經過礦石樣品后，部分被吸收、反射或透射。檢測器會測量礦石樣品在不同波長下的光強度，并將數據傳輸給數據處理系統。
全新設計的XTEST分析軟件
軟件內核包括基本參數法（FP），經驗系數法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數包括用于定義背景連續性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質效應，增強和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應，將光峰強度建模為高斯函數。 可以使用純基本參數方法，具有分散比的基本參數（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品。
鐵精粉光譜儀是一種用于分析和檢測鐵精粉樣品的儀器。它通過測量樣品與電磁輻射之間的相互作用，獲得樣品的光譜信息，從而分析樣品的組成、結構和性質。
