手機干涉儀上海乾曜光學科技有限公司
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更新時間：2018-08-22 信息編號：184765466

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≥ 1臺

價格：
面議
產地：
上海
品牌：
其它
關鍵詞：
激光干涉儀,干涉儀,手機干涉儀,攝像孔解像力

楊毓

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手機干涉儀上海乾曜光學科技有限公司

產品別名	激光干涉儀,手機干涉儀,干涉儀,攝像孔解像力	面向地區	上海	產地	上海
品牌	其它	品種	激光干涉儀	發貨期限	1天
執行質量標準	國標	類型	光學儀器

G5U-PH 激光干涉儀
隨著手機行業的發展，3D屏及全面屏的攝像孔開始無限靠近弧邊，相應的，透過波前的PV值也遠大于之前的2D及2.5D屏。尤其是攝像孔邊緣區域（貼近弧邊）的干涉條紋會非常密集，超出上一代產品G10U-PH激光干涉儀（及行業內主流的與G10相當的產品）的分辨極限，導致無法準確測量。
一、儀器規格參數
G5U-PH激光干涉儀為3D屏及全面屏攝像孔檢測而定制，可以滿足條紋非常密集、超大像差（PV值非常大）狀況下的準確測量。儀器采用進口He-Ne激光器，并標配氣浮減震平臺，在環境惡劣的生產現場亦可以穩定、可靠的測試。
儀器規格參數表
硬件部分：
產品型號
G5U-PH
產品名稱
5mm正立式激光干涉儀
測試口徑
Φ5mm
輔助對準口徑
Φ30mm
標準鏡面形精度
λ/20
光源
進口He-Ne激光器（632.8nm)
光路切換
輔助觀察（Φ30mm大視場）與測試（Φ5mm小視場）模式電控切換
電源
AC220V50HZ
標配配件
氣浮減震平臺

軟件部分：
軟件名稱
移相算法（簡稱PH）
分析項目
透過波前PV值、平行度Tilt值、ttv等
測試重復性
PV：0.01λ RMS:0.003λ
測試允許誤差
PV<1λ時 PV：0.05λ Tilt：0.2fr（零場調整為1根條紋）
1λ<PV<2λ時 PV：0.1λ Tilt：0.5fr（零場調整為1根條紋）
2λ<PV<3λ時 PV：0.2λ Tilt：1fr（零場調整為1根條紋）
測試時間
1.5秒

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