元素范圍從硫到鈾分析時間30S分析精度5%分析范圍0~50微米儀器重量90kg

X熒光鍍層測厚儀配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統
02 微焦斑X光管
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護
05 Fast-SDD探測器
06 雙激光定位裝置
07 標配可自動切換的準直孔和濾光片

產品應用領域
測量超微小部件和結構,如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測量電子和半導體行業中的功能性鍍層;
分析復雜的多鍍層系統;
全自動測量,如:用于質量控制領域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標準。

X射線發射源及接收檢測頭
X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中絕緣和良好冷卻，高壓等級根據有所區別，加上具有的溫度自動保護與報警功能，提高了X射線管的穩定性和使用壽命。模塊化設計、免維護設計方案及規范的制造了設備系統高可靠性。
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成電離室檢測頭，離子室設計具有大空間，高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統備有風冷、油冷恒溫冷卻單元，系統的使用壽命。